Leptoskop 2042 Fe-Basispa. Deutsch

Schichtdickenmessgerät Leptoskop

Ausführung: Vielseitiges Schichtdickenmessgerät mit externer Sonde, präziser Messtechnik und der Möglichkeit zur schnellen Vor-Ort-Erweiterung über Freischaltcodes (Software-Modul Statistik und Datenspeicher). Großes, hinterleuchtetes Grafikdisplay (48 x 24 mm), große Auswahl an Sonden. Messbereich 020000 µm (sondenabhängig), 10 Sprachen wählbar, USB-/RS 232-Schnittstelle und Gummischutzrahmen. Batterielebensdauer ca. 100 Stunden. Lieferung mit Fe-Sonde bis 5000 µm, Kontrollkörper, Kalibrierfoliensatz, Betriebsanleitung, Abnahmeprotokoll/Qualitätsprüfzertifikat, Messprotokoll, Fachliteratur und 2 Mignon-Batterien AA/LR06, 1,5 V, im Kunststoffkoffer.

Messunsicherheit (nach Kalibrierung):
Schichtdicke < 100 µm: 1 % des Messwerts 1 µm
Schichtdicke > 100 µm: 13 % des Messwerts 1 µm
Schichtdicke > 1000 µm: 35 % des Messwerts 10 µm
Schichtdicke > 10000 µm: 5 % des Messwerts 100 µm

Anwendung: Ermittelt die Dicke nicht magnetischer Schichten auf magnetisierbarem Substrat (Fe, nach DIN EN ISO 2178) und die Dicke nicht leitender Schichten auf leitfähigem Grundmaterial nach dem Wirbelstromprinzip (NFe, nach DIN EN ISO 2360).

Hinweis: Ersatzbatterie (Bestell-Nr. 9041 0018).
Weitere Sonden und umfangreiches Zubehör, wie z. B. Messwertspeicherung mit einfacher Dateiverwaltung wie unter Windows, Grenzwerteingabe und -überwachung, statistische Auswertungen mit bis zu 999 Messwerten, verschiedene PC-Auswerteprogramme, viele Kalibrieroptionen sowie Softwareerweiterung zur Datenabspeicherung (z. B. PC-Software, Datenkabel, Drucker) auf Anfrage lieferbar.